電力新聞電力企業(yè) 近日，基于美國國家儀器 (National Instruments，以下簡稱“NI”) 的PXI源測量單元 (SMU)，專注利用人工智能驅(qū)動半導(dǎo)體測試測量的北京博達(dá)微科技有限公司 (簡稱“博達(dá)微”) 宣布推出最新基于機器學(xué)習(xí)的半導(dǎo)體參數(shù)化測試產(chǎn)品FS-Pro，真正將IV測試、CV測試、低頻噪聲 (1/f noise) 測試等常用低頻特性測量集成于一體，實現(xiàn)在單臺儀器內(nèi)完成所有測試的需求，并將測試速度提升10倍，在低頻噪聲測試中將原本需要幾十秒的測試時間縮短至5

近日，基于美國國家儀器 (National Instruments，以下簡稱“NI”) 的PXI源測量單元 (SMU)，專注利用人工智能驅(qū)動半導(dǎo)體測試測量的北京博達(dá)微科技有限公司 (簡稱“博達(dá)微”) 宣布推出最新基于機器學(xué)習(xí)的半導(dǎo)體參數(shù)化測試產(chǎn)品FS-Pro，真正將IV測試、CV測試、低頻噪聲 (1/f noise) 測試等常用低頻特性測量集成于一體，實現(xiàn)在單臺儀器內(nèi)完成所有測試的需求，并將測試速度提升10倍，在低頻噪聲測試中將原本需要幾十秒的測試時間縮短至5

2018-01-30 00:00:00 · 中國自動化網(wǎng) 閱讀：606

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